Q1MEM-512SE三菱Q1MEM-512SE三三菱程模块

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三菱Q1MEM-512SE产品特：

8通道。 铂热电阻（Pt100、JPt100）。 镍热电阻（Ni100）。 脱落检测功能。 转换速度：320ms/8通道。 通道间隔离。 40针连接器。 适合用于过程控制的隔离模拟量模块Q1MEM-512SE。 可通过连接热电偶/热电阻来收集温度数据。 产品可选择多通道（ 8通道）输入型和通道隔离型。 客户可根据预期用途选择适合的型号。 缩短系统停机复原时间。 只需简单的操作，即可将CPU内的所有数据备份到存储卡中Q1MEM-512SE。 通过定期备份，可始终将新的参数、程序等保存到存储卡。 在万一发生CPU故障时，在更换CPU后，可通过简单的操作， 通过事前备份了数据的存储卡进行系统复原。 因此，无需花费时间管理备份数据，也可缩短系统停机时的复原时间。 自动备份关键数据 将程序和参数文件自动保存到无需使用备份电池的程序存储器（Flash ROM）中， 以防因忘记更换电池而导致程序和参数丢失Q1MEM-512SE。 此外，还可将软元件数据等重要数据备份到标准ROM， 以避免在长假期间等计划性停机时， 这些数据因电池电量耗尽而丢失。 下次打开电源时，备份的数据将自动恢复。

三菱Q1MEM-512SE参数规格：

输入电压范围：AC100-240V三三菱程模块。 输出电压：DC5V。 输出电源：2A。 薄型电源。 简化程序调试 可使用带执行条件的软元件测试功能，在程序上的任意步， 将软元件值更改为用户值三三菱程模块。 以往在调试特定回路程序段段时，需要追加设定软元件的程序， 而目前通过使用本功能，无需更改程序，即可使特定的回路程序段单独执行动作三菱fx3u-80mt。 因此，不需要单独为了调试而更改程序，调试操作更简Flash ROM）中， 以防因忘记记更换电池而导致程序和参数丢失三三菱程模块三菱模块fx1n-40mr-001。 此外，还可将软元件数据等重要数据备份到标准ROM， 以避免在长假期间等计划性停机时， 这些数据因电池电量耗尽而丢失。 下次打开电源时，备份的数据将自动恢复。三菱模块fx1n-40mr-001。 通过软元件扩展，更方便创建程序。 位软元件的M软元件和B软元件多可扩展到60K，使程序更容易理解。三菱Q61SP 可使用带执行条件的软元件测试功能，在程序上的任意步，三菱Q61SP存储卡 Q3MEM-4MBS-SET老款小A系列扩展基板 QA1S68B光纤回路（SI）模块 Q81BD-J71LP21-25CC-Link模块 Q80BD-J61BT11N运动CPU模块 Q172HCPU电流输出模拟量模块 Q68DAIN内存卡 Q2MEM-1MBS热电偶型温度调节模块(升级版) Q64TCTTN过程CPU Q02PHCPU高速计数模块 QD62D晶体管输出模块(漏型) QY42P运动CPU模块（老款） Q172CPU Q173NCCPU通用型CPU Q00UJCPU QJ71EIP71线性闪存储卡 Q2MEM-4MBF内存卡 Q2MEM-2MBS薄型电源模块 Q61SP通用型CPU Q06UDHCPUDC型高速输入模块 QX70H